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Présentation
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Personnels
Plaquette à télécharger
Equipements
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Sercice de Microscopes Electroniques à Balayages (MEB)
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Service de Microscopes Electroniques en Transmission (MET)
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Microsondes Electroniques
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Spectromètre de Masse d’Ions Secondaires (SIMS) - Spectrométrie à Décharge Luminescente (SDL - GD-OES)
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Service de préparation
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Préparation des échantillons pour observation au MEB et techniques d’analyses associées (EBSD)
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Préparation des échantillons pour observation au MET
- Nettoyeur Plasma GATAN SOLARUS modèle 950
- Amincisseur électrolytique Struers Tenupol-5
- Polisseur ionique haute précision GATAN modèle 691 PIPS
- Polisseur ionique haute précision GATAN modèle 695 PIPS II
- Station de pompage JEOL modèle JEC-4000DS
- Station de pompage du 2100F Model 655
- Scie à fil WELL 3032
- Cuveuteuse GATAN Model 656 - 1
- Etuve
- Plaque Chauffante
- Nettoyeur Plasma PICO
- Plaque Chauffante WELLER WT1
- Polisseuse Mecatech 250 SPC
- Ultra microtome ultra cut E
- Paque chaufante WELLER
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Métalliseurs
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Microscopes Optiques
- Microscope inversé métallographique NIKON
- Microscope droit pétrographique NIKON
- Stéréomicroscope binoculaire NIKON
- Stéréomicroscope binoculaire MOTIC - salle microsondes
- Stéréomicroscope binoculaire MOTIC - salle FIB
- Binoculaire ARM Vision SX45
- Binoculaire 2100F Vision SX45
- Binoculaire salle de préparation 3
- Binoculaire 1400
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Découpe d’échantillons
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Service de traitement de données